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產(chǎn)品詳情
簡單介紹:
時(shí)代粗糙度儀測量平臺主要有TA620、TA610、TA630、TA631四個(gè)型號;時(shí)代粗糙度儀測量平臺主要配合北京時(shí)代粗糙度儀使用。
詳情介紹:
時(shí)代粗糙度儀測量平臺TA610
-
齒條升降,立柱可以隨意轉(zhuǎn)動,用來測量不
容易 放置的工件,可提高測量精度 - 花崗巖平臺平面度:00級 | 平面公差值3μm
- 花崗巖平臺尺寸:400×250×70mm
- 垂直升降高度:270mm
- 垂直升降微調(diào)量:20mm

時(shí)代粗糙度儀測量平臺TA620
-
絲桿升降,平臺上設(shè)置V型槽,用來測量形狀
較小的工件,可提高測量精度 - 花崗巖平臺平面度:00級 | 平面公差值3μm
- 花崗巖平臺尺寸:400×250×70mm
- 垂直升降高度:300±1mm
- 升降回程誤差:≤手輪旋轉(zhuǎn)1/6圈

測量平臺TA650|TR300專用
-
時(shí)代粗糙度儀測量平臺垂直方向上的升降高度:300±1mm | 微調(diào)
由儀 器上的可調(diào)支架完成 - 垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度:±45°
- 回程誤差:不大于手輪的1/6圈
- 平臺的平面度:00級 | 平面公差值3μm
- 平臺尺寸:600×420×80 mm
- 時(shí)代粗糙度儀測量平臺總高度:695 mm